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發(fā)布時(shí)間：2023-10-14 12:22:02 作者：學(xué)術(shù)小編 來(lái)源：www.adcyfwr.cn
斑點(diǎn)檢測(cè)原理與舉例 斑點(diǎn)檢測(cè)的方法主要包括利用高斯拉普拉斯算子檢測(cè)的方法（LOG）,以及利用像素點(diǎn)Hessian矩陣（二階微分）及其行列式值的方法（DOH）。 LoG的方法已經(jīng)在 斑點(diǎn)檢測(cè) 這入篇文章里作了詳細(xì)的描述。 因?yàn)槎S高斯函數(shù)的拉普拉斯核很像一個(gè)斑點(diǎn)，所以可以利用卷積來(lái)求出圖像中的斑點(diǎn)狀的結(jié)構(gòu)。 Hessian矩陣行列式的值，同樣也反映了圖像局部的結(jié)構(gòu)信息。 與LoG相比，DoH對(duì)圖像中的細(xì)長(zhǎng)結(jié)構(gòu)的斑點(diǎn)有較好的抑制作用。 無(wú)論是LoG還是DoH，它們對(duì)圖像中的斑點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，其步驟都可以分為以下兩步： 2）在圖像的位置空間與尺度空間中搜索LoG與DoH響應(yīng)的峰值。
